XP205DR超越系列至尊型分析天平
梅特勒-托利多的超越系列至尊型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。革命性的创新设计带来了前所未有的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。
电子分析天平jf1004 jf1204
JF系列精密电子天平采用新一代电磁式传感器,通过高性能单片微处理机控制,使产品精度有了可靠保障,高清晰大液晶显示屏易于观察和适用于各种环境。是集精准、稳定
42g/210g天平,0.01mg/0.1mg天平
0.01mg/0.1mg双量程通用型分析天平,内置自动校准砝码,单键全自动校准,玻璃门易开启手柄,自动环境修正,标准计算机接口,符合GLP及GMP标准